此次亞洲首秀的全新工業(yè)CT無損測量技術METROTOM,實現(xiàn)了錐束X射線斷層掃描與坐標測量技術出色的融合,其兼具高精度與多功能的特點,有效取代傳統(tǒng)復雜耗時的檢測方式,解決產(chǎn)品難以觸及與隱藏部位的尺寸及形位公差測量、孔隙率分析、裝配檢驗、模具修改、逆向工程等業(yè)界應用難題。能夠無縫對接塑料工程、鋁壓鑄、汽車、電子、精密機械及科研檢測等行業(yè)需求。
同時,值得關注的是,傳感器和測頭正為測量帶來前所未來的“高科技”體驗,這在蔡司的CIMT展位上隨處可見。此次展示的新型測頭ZEISS DotScan 白光測頭已經(jīng)整合到了整個蔡司測量系統(tǒng)。配備DotScan 共聚焦白光測頭的ZEISS ACCURA 多測頭平臺,也是市場上首次推出的裝于萬向旋轉測座上的白光測頭。
而新型光學傳感器LineScan:可在ZEISS CONTURA RDS 機型上應用自如,能并帶來更精密、更可視化的測量。采用LineScan 可以擴展ZEISS CONTURA 的功能,它具有進行快速光學測量的特點。可實現(xiàn)對汽車零部件、模具及產(chǎn)品、以及需要對接觸敏感或結構精細的表面進行測量。
作為新型粗糙度傳感器實現(xiàn)在蔡司三坐標測量機(CMM)完成按標準對粗糙度和波紋度的檢測,新型ZEISS ROTOS 粗糙度傳感器在質量保障檢測中,執(zhí)行一種新的、更加簡單的工作過程。其目的是在一臺測量機上進行尺寸、位置或外形檢測并可以對相同的工件進行粗糙度和波紋度測量。