蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300掃描電鏡，更靈活的成像方式
1.無論是資深用戶還是初學(xué)者，蔡司SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡GeminiSEM 300將讓您體驗到在更高的分辨率和更佳的襯度下進行極大視野范圍成像的樂趣，
2.并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實現(xiàn)。
3.得益于高效的信號采集系統(tǒng)和優(yōu)異的分辨率性能，可實現(xiàn)快速、高質(zhì)量、無畸變的大范圍成像；
4.創(chuàng)新設(shè)計的高分辨率電子槍模式，為對磁性樣品、不導(dǎo)電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案；
5.蔡司獨樹一幟的鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器，在低電壓下也可輕松地獲得高質(zhì)量的樣品材料襯度圖像；
6.NanoVP技術(shù)讓您可以使用鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導(dǎo)電樣品進行高靈敏度、高分辨成像。